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MT160超聲波測(cè)厚儀
| 型 號(hào)： | |
| 報(bào) 價(jià)： | 30000 |
MT160超聲波測(cè)厚儀適合測(cè)量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；
詳細(xì)資料：
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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MT160超聲波測(cè)厚儀
技術(shù)參數(shù)
顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
測(cè)量范圍：0.75～300mm（鋼中），公制與英制可選擇；
聲速范圍：1000~9999 m/s：
分 辨 率：0.1mm /0.01mm
示值精度： ±（0.5%H+0.04）mm H為被測(cè)物實(shí)際厚度
測(cè)量周期：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量時(shí)4次/秒、掃描模式10次/秒；
存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組zui多99個(gè)測(cè)量值）厚度測(cè)量數(shù)據(jù)。
工作電壓：3V（2節(jié)AA尺寸堿性電池串聯(lián)）
持續(xù)工作時(shí)間：約100小時(shí)（不開背光時(shí)）
外形尺寸：150×74×32 mm
整機(jī)重量：245g
MT160超聲波測(cè)厚儀
主要功能
適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；
可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用；
具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正；
已知厚度可以反測(cè)聲速，以提高測(cè)量精度；
具有耦合狀態(tài)提示功能；
有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；
有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量；
具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能；
小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾；
帶RS232接口，支持現(xiàn)場(chǎng)打印機(jī)；
儀器配置
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| 序號(hào) | 名稱 | 數(shù)量 | 備注 |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 1 | 主機(jī) | 1臺(tái) |
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| 2 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭（5MHz） | 1只 |
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| 3 | 耦合劑 | 1瓶 |
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| 4 | ABS儀器箱 | 1只 |
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| 5 | 隨機(jī)資料 | 1份 |
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| 6 | 電池倉工具 | 1把 |
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| 可選配置 | 8 | 粗晶探頭（2MHz） |
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| 9 | 微徑探頭（7.5MHz） |
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| 10 | 高溫探頭（5MHz） |
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表2 探頭選擇
| 名稱 | 型號(hào) | 頻 率 | 探 頭 | 測(cè)量范圍 | zui小管徑 | 特性描述 |
| 粗晶探頭 | N02 | 2 | 22mm | 3.0mm～300.0mm（鋼） | 20 | 用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量 |
| 標(biāo)準(zhǔn)探頭 | N05 | 5 | 10mm | 1.2mm～230.0mm（鋼） | Φ20mm×3.0mm | 通用 |
| 標(biāo)準(zhǔn)探頭 | N05/90° | 5 | 10mm | 1.2mm～230.0mm（鋼） | Φ20mm×3.0mm | 通用 |
| 微徑探頭 | N07 | 7 | 6mm | 0.75mm～80.0mm（鋼） | Φ15mm×2.0mm | 用于薄壁及小弧面的測(cè)量 |
| 高溫探頭 | HT5 | 5 | 14mm | 3～200mm （鋼） | 30 | 用于溫度小于300℃的材料的測(cè)量 |
工作條件
環(huán)境溫度：操作溫度－20～＋50℃；存儲(chǔ)溫度：-30℃～＋70℃
相對(duì)濕度≤90％；
周圍環(huán)境無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。
主顯示界面
儀器開機(jī)后會(huì)自動(dòng)進(jìn)入主顯示界面，如下圖所示：
偶合狀態(tài)：探頭與被測(cè)工件的耦合狀態(tài)
單位制式：MM、M/S（公制時(shí)），或者IN、IN/μS(英制時(shí))
電池電量：電池剩余電量顯示
信息顯示：顯示厚度測(cè)量值，以及簡(jiǎn)單的操作提示信息。
8 材料聲速表
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上一個(gè)：MT150超聲波測(cè)厚儀 | 下一個(gè)：AD-3253/3253B超聲波測(cè)厚儀
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